磁致伸缩位移传感器波导丝缺陷对信号的影响

1、波导丝表面凹形缺陷对检测信号的影响

人为地对磁致伸缩位移传感器波导丝表面进行破坏,打个凹形缺陷,观察打凹形缺陷前、后检测信号的区别。如下图所示。

磁致伸缩位移传感器凹形缺陷采样滤波
磁致伸缩位移传感器凹形缺陷采样滤波

从图中观察到凹形缺陷会导致检测信号在幅度上发生衰减,衰减幅度约为1/2,但是,并没有影响到特征点的相位,并且凹形缺陷处会形成一反射。

凹形缺陷在后面的情形,同后面有障碍物的情形一样,会形成一反射,但是对检测信号无显著影响。因此,对于波导丝表面的凹形缺陷,不会对全波采样法构成影响。但是对于采用比较器检测时间的方式,缺陷在磁环前时造成了幅值上的衰减,会带来很大的测量误差。

2、波导丝弯曲对检测信号的影响

装配磁致伸缩位移传感器时,其中一道工序是将波导丝拉直,如果在拉直过程中有没被拉直的地方,将会对测量信号产生什么样的影响呢?针对该问题设计如下实验,在波导丝上打个折,看看对检测信号的影响情况。

折在磁环前的情形,如同磁环前有一凹形缺陷一样,只影响幅度而不影响特征点的相位。

折在磁环后的情形,同后面有障碍物的情形一样,会形成一反射,但是对检测信号无显著影响。因此,全波采样法可以有效的避免这种缺陷对测量的影响。